В 2018 году исследователи из Корнеллcкого университета под управлением Дэвида Мюллера создали детектор, который в сочетании с компьютером, в процессе названном птихография, утроил разрешение современного электронного микроскопа. Первый детектор работал только с ультратонкими образцами толщиной в несколько атомов. Но теперь исследователи с помощью детектора матрицы пикселей электронного микроскопа (EMPAD), включив более сложные алгоритмы трехмерной реконструкции улучшили разрешение прибора в 2 раза.
«Это не просто новый рекорд», – сказал Дэвид Мюллер. «Достигнут режим, который фактически будет максимальным пределом разрешения. Теперь мы можем очень легко определить, где находятся атомы. Детектор открывает множество новых возможностей измерения того, что мы хотели. Это также решает давнюю проблему – устранение многократного рассеяния луча в образце, которое Ганс Бете изложил в 1928 году».
Птихография работает путем сканирования перекрывающихся схем рассеяния от образца материала и поиска изменений в области перекрытия. Детектор слегка расфокусирован, размывая луч, чтобы получить как можно более широкий диапазон данных. Затем эти данные восстанавливаются с помощью сложных алгоритмов, в результате чего получается сверхточное изображение с точностью до пикометра (одна триллионная метра).
Статья об исследовании была опубликована в журнале Science.